Compact WIL白光干涉微光形貌粗糙度仪-德瑞华测量技术（苏州）有限公司

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瑞士丹青进口白光干涉微观形貌粗糙度仪瑞士丹青Compact WLI白光干涉微观形貌及粗糙度仪是用于记录3D形貌光学测量技术，其分辨率高达纳米级。测量点平行采集和处理，大面积的高度信息可以在很短时间内采集。研究和质量管理过程中的典型应用有：物体表面的不同粗糙度特性（晶圆结构、镜面、玻璃、金属等）、确定高度变化以及曲面的精密测量（如微透镜等）。

更新日期：2024-04-24

型号：Compact WIL

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